Traitement d'enregistrements d'EEEG intracranienne et scalp-Applications à l'épilepsie

Directeur de thèse :     Christian JUTTEN

École doctorale : Electronique, electrotechnique, automatique, traitement du signal (EEATS)

Spécialité : Signal, image, parole, télécoms

Structure de rattachement : Grenoble-INP

Établissement d'origine : UNIV. TEHERAN

Financement(s) : contrat à durée déterminée ; bourse CROUS ; contrat à durée déterminée ; contrat à durée déterminée ; contrat à durée déterminée

Date d'entrée en thèse : 01/10/2007

Date de soutenance : 21/12/2010

Composition du jury :
M. Jean-Philippe LACHAUX, Président
M. Fabrice WENDLING, Rapporteur
M. Dimitri VAN DE VILLE, Rapporteur
M. Christian JUTTEN, Co-directeur de thèse
M. Hamid SOLTANIAN-ZADEH, Co-directeur de thèse
Mme. Sophie ACHARD, Co-encadrrant
M. Philippe KAHANE, Examinateur
M. Mohammad Bagher SHAMSOLLAHI, Examinateur
M. Gholam Ali HOSSEIN-ZADEH, Invité
M. Laurent VERCUEIL, Invité

Résumé : Les patients pharmaco-résistants sont des candidats pour la chirurgie de l’épilepsie dont le but est d’enlever les zones à l’origine de la crise (SOZ). Toutefois, l’enregistrement des crises sur les électroencéphalogrammes intracérébraux (iEEG) est long et compliqué, contrairement à l’enregistrement de décharges épileptiques intercritiques (IED). La prévision des SOZs, à partir des IEDs, a déjà été au coeur de plusieurs études, mais dont les résultats manquent de fiabilité. L’objectif de cette thèse est de proposer une méthode statistiquement robuste d’estimation des régions d’origine des IEDs à partir d'iEEG. Le point essentiel de cette méthode repose sur la détermination d'un graphe de connectivité différentielle (DCG), qui ne conserve que les noeuds (électrodes) associés aux iEEG qui changent de façon significative selon la présence ou l’absence d’IEDs. Les résultats préliminaires, obtenus sur cinq patients, sont convaincants, et cette étude ouvre de nombreuses perspectives.