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DO Trong Hieu

Analyse structurelle des réseaux de capteurs pour la commande et l'observation

 

Directeur de thèse :     Christian COMMAULT     Jean-Michel DION

École doctorale : Electronique, electrotechnique, automatique, traitement du signal (eeats)

Spécialité : Automatique et productique

Structure de rattachement : Université de Grenoble

Établissement d'origine :

Financement(s) : allocation MENRT

 

Date d'entrée en thèse : 01/10/2008

Date de soutenance : 23/09/2011

 

Composition du jury :
M. Jean-Marc THIRIET, Professeur à l'Université Joseph Fourier, Grenoble, Président
M. Taha BOUKHOBZA, Professeur à l'Université Henri Poincaré, Nancy, Rapporteur
M. Jean-François LAFAY, Professeur à l'Ecole Centrale de Nantes, Rapporteur
M. Janan ZAYTOON, Professeur à l'Université de Reims Champagne-Ardenne, Examinateur
M. Christian COMMAULT, Professeur à Grenoble-INP, Directeur de thèse
M. Jean-Michel DION, Directeur de Recherche au CNRS, Co-directeur de thèse

 

Résumé : Dans ce travail, on s'intéresse aux problèmes de localisation et de classification des capteurs pour des propriétés de commande et d'observation de systèmes dynamiques. Lorsqu'une propriété considérée, du système n'est pas vérifiée avec l'ensemble des capteurs initiaux, on cherche à implanter de nouveaux capteurs pour rendre cette propriété vraie. Lorsqu'une propriété du système est vérifiée avec l'ensemble des capteurs existants, on classe ces capteurs en différentes catégories en fonction de leur importance pour la préservation de cette propriété. On détermine les capteurs essentiels dont la défaillance fait perdre la propriété considérée et les capteurs inutiles qui peuvent tomber en panne sans aucun impact surla propriété. Pour étudier ces deux problèmes, on utilise l'approche des systèmes linéaires structurés avec les graphes orientés associés. Les systèmes linéaires structurés sont une classe particulière de systèmes linéaires où les éléments des matrices d'état sont soit fixés à zéro soit des paramètres libres. Avec cette approche structurée, on étudie les problèmes de localisation et de classification des capteurs pour le rejet de perturbation par retour de mesure et la détection et localisation de défauts. Les résultats sont représentés en termes graphiques.


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