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TRINH Do Hieu

Analyse structurelle de la localisation et de la classification de capteurs

 

Directeur de thèse :     Jean-Michel DION

Co-encadrant :     Christian COMMAULT

École doctorale : Electronique, electrotechnique, automatique, traitement du signal (eeats)

Spécialité : Automatique et productique

Structure de rattachement : Grenoble-INP

Établissement d'origine : Institut Polytechnique de HANOI

Financement(s) : allocation MENRT

 

Date d'entrée en thèse : 01/10/2005

Date de soutenance : 27/10/2008

 

Composition du jury :
András SEBÖ, Directeur de Recherche CNRS, G-Scop
Marcel STAROSWIECKI, Professeur, Université Lille 1, Satie - examinateur
Taha BOUKHOBZA, Maître de Conférence, Université Henri Poincaré, CRAN - Rapporteur
Jean-Jacques LOISEAU, Directeur de Recherche CNRS, IRCCyN - Rapporteur
Jean-Michel DION, Directeur de Recherche CNRS, Gipsa-lab - Directeur
Christian COMMAULT, Professeur, Grenoble INP, Gipsa-lab - co-Directeur

 

Résumé : Dans ce travail, on étudie les problèmes de localisation et de classification des capteurs pour des propriétés génériques – propriétés valables pour presque toutes les valeurs des paramètres. Lorsqu'une propriété donnée du système n'est pas vérifiée avec l'ensemble des capteurs, on cherche à implanter de nouveaux capteurs pour rendre la propriété vraie. Lorsqu'une propriété du système est vérifiée avec l'ensemble des capteurs existants, on classifie les capteurs en différentes catégories en fonction de leur criticité relativement à la propriété. La thèse caractérise les capteurs essentiels pour la propriété, ceux qui doivent être sans défaut. La défaillance d'un de ces capteurs essentiels fait perdre la propriété. Les capteurs inutiles qui peuvent tomber en panne sans aucun impact sur la propriété sont également caractérisés. Cette approche générale a été appliquée à deux propriétés: l'observabilité et le rejet de perturbation par retour de mesure. Tous les résultats ont été obtenus par une approche graphique et sont implantables numériquement de façon simple.


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