Application des systèmes structurés à l''étude du diagnostic (localisation de capteurs)
Directeur de thèse : Jean-Michel DION
Co-encadrant : Christian COMMAULT
École doctorale : Electronique, electrotechnique, automatique, traitement du signal (EEATS)
Spécialité : Automatique et productique
Structure de rattachement : Grenoble-INP
Établissement d'origine : Université d'Alep
Financement(s) : allocation MENRT ; bourse Marie Curie
Date d'entrée en thèse : 01/10/2004
Date de soutenance : 16/11/2007
Composition du jury :
VAN DER WOUDE Jacob, Professeur T.U Delft Pays bas
SAUTER Dominique, Professeur Université Henri Poincaré Nancy 1 CRAN
LOISEAU Jean-Jacques, DR CNRS - IRCCyN Nantes
GEORGES Didier,Professeur INP Grenoble - Directeur-Adj.GIPSA-lab Chef Dept Automatique
DION Jean-Michel, DR CNRS - GIPSA-lab Grenoble Dept Automatique
COMMAULT Christian, Professeur INP Grenoble, GIPSA-lab Dept Automatique.
Résumé : Dans cette thèse nous étudions le problème de détection et localisation de défauts (FDI) diagonal avec une banque d''observateurs. Nous étudions ce problème sur la classe des systèmes linéaires structurés avec leurs graphes associés. Les systèmes structurés sont une classe particulière des systèmes linéaires où les éléments des matrices sont soit fixés à zéro soit des paramètres libres. On présente une condition nécessaire et suffisante pour la solubilité générique du problème FDI. Cette condition est à vérifier sur le graphe orienté associé au système structuré. Dans le cas où cette condition n''est pas vérifiée, nous présentons une décomposition du système qui donne des informations structurelles sur le placement de capteurs additionnels qui sont nécessaires pour remplir la condition. Dans le cas où la condition de solubilité générique du problème FDI est vérifiée, nous présentons aussi une classification des capteurs selon leur importance pour la solubilité générique du problème FDI.
